X射线荧光痕量分析中的背景问题
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


The Background Problem in Trace Element Analysis by X-Ray Eluorescence Spectrometry
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    Abstract:

    This paper discusses the problems of background correction in the determin- ation of trace elements for geological rock samples by X-Ray fluorescence spe- ctrometiy. An approach of background correction- -inherent background and background equation--was suggested and satisfactory result was obtained.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

梁国立,王毅民, 1984. X射线荧光痕量分析中的背景问题[J]. 岩石矿物学杂志, 3(3):262~265.
, 1984. The Background Problem in Trace Element Analysis by X-Ray Eluorescence Spectrometry[J]. Acta Petrologica et Mineralogica, 3(3): 262~265.

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码