岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Determination of Trace Rare Earth Elements and Other Trace Elements in Rocks by X-Ray Fluorescence Analyses
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    Abstract:

    This paper deals with correcting matrix effects and interferences between spectral lines and background in X-ray fluorescence analyses of trace elements (especially trace REE) in rocks. It can also be used for Ti, V, Cr,Mn, Co, Ni, Cu, Zn, Nb, Zr, Hf, Rb, Sr,, U, Th, Pb, W and Ba. The detection limits are 5-X × lOppm.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

王毅民,梁国立, 1984. 岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定[J]. 岩石矿物学杂志, 3(1):58~63.
, 1984. Determination of Trace Rare Earth Elements and Other Trace Elements in Rocks by X-Ray Fluorescence Analyses[J]. Acta Petrologica et Mineralogica, 3(1): 58~63.

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码